測(cè)試應(yīng)用軟件
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產(chǎn)品名稱(chēng): 測(cè)試應(yīng)用軟件
產(chǎn)品型號(hào): U7231B
產(chǎn)品展商: Agilent
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
使用 DDR3 和 LPDDR3 應(yīng)用軟件快速、輕松地測(cè)試、調(diào)試和表征 DDR3 和 LPDDR3 設(shè)計(jì)。它在進(jìn)行每次測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)配置示波器，并在測(cè)試結(jié)束時(shí)生成一份內(nèi)容詳盡的 HTML 報(bào)告。U7231B測(cè)試應(yīng)用軟件不僅可對(duì)測(cè)試結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試極限值進(jìn)行比較，還能進(jìn)行裕量分析，顯示器件超過(guò)或距離測(cè)試合格線的程度。
測(cè)試應(yīng)用軟件
的詳細(xì)介紹
U7231B測(cè)試應(yīng)用軟件主要特性與技術(shù)指標(biāo)
U7231B測(cè)試應(yīng)用軟件特性
- 根據(jù) JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)時(shí)鐘抖動(dòng)、電子和計(jì)時(shí)測(cè)量進(jìn)行一致性測(cè)試
- **的分析功能，即使您不在場(chǎng)也可自動(dòng)執(zhí)行復(fù)雜的測(cè)量
- 優(yōu)異的信號(hào)完整性和探測(cè)功能，可滿足 DDR3 和 LPDDR3 測(cè)量需求
- 自動(dòng)電壓閾值設(shè)置，可在非標(biāo)準(zhǔn)工作電壓下進(jìn)行測(cè)試
U7231B測(cè)試應(yīng)用軟件支持的標(biāo)準(zhǔn)：
- JESD79-3E DDR3 SDRAM 技術(shù)規(guī)范
U7231B測(cè)試應(yīng)用軟件要求：
- 用于 9000/90000 系列示波器的 Infiniium 3.22 或更高軟件版本
- U7231B DDR3 和 LPDDR3 測(cè)試應(yīng)用軟件（選件 033 在新型 9000/90000A 上運(yùn)行；選件 032 在 90000X 系列示波器上運(yùn)行或選件 N5435A-053 應(yīng)用服務(wù)器許可證）或 N5459A DDR 1、2 和 3 軟件捆綁選件（包含 U7233A、N5413B 和 U7231B）
- E2688A 高速 SDA（選件 003 在新型 9000/90000/90000X 系列示波器上運(yùn)行或選件 N5435A-003 應(yīng)用服務(wù)器許可證）
- 推薦的 N5414B InfiniiScan 事件識(shí)別軟件（選件 009 在新型 Infiniium 90000/90000X 系列示波器上運(yùn)行或選件 N5435A-004 應(yīng)用服務(wù)器許可證）或 N5415B InfiniiScan 事件識(shí)別軟件（選件 009 在新型 Infiniium 9000 系列示波器上運(yùn)行或選件 N5435A-004 應(yīng)用服務(wù)器許可證）――可選
U7231B測(cè)試應(yīng)用軟件可擴(kuò)展性：
- 使用 N5467A 用戶(hù)定義的應(yīng)用軟件（www.agilent.com/find/uda）：
- 創(chuàng)建并完全綜合定制測(cè)試、配置變量和連接說(shuō)明。
- 插入外部應(yīng)用軟件啟動(dòng)運(yùn)行序列，例如 MATLAB 腳本或器件控制器。
- 配置測(cè)試套件中使用的其他外部?jī)x器。
U7231B測(cè)試應(yīng)用軟件描述
使用 DDR3 和 LPDDR3 應(yīng)用軟件快速、輕松地測(cè)試、調(diào)試和表征 DDR3 和 LPDDR3 設(shè)計(jì)。它在進(jìn)行每次測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)配置示波器，并在測(cè)試結(jié)束時(shí)生成一份內(nèi)容詳盡的 HTML 報(bào)告。該應(yīng)用軟件不僅可對(duì)測(cè)試結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試極限值進(jìn)行比較，還能進(jìn)行裕量分析，顯示器件超過(guò)或距離測(cè)試合格線的程度。*后，該應(yīng)用軟件可自動(dòng)對(duì) DDR3 和 LPDDR3 信號(hào)進(jìn)行復(fù)雜而細(xì)致的分析，無(wú)需用戶(hù)手動(dòng)執(zhí)行測(cè)量，從而節(jié)省其時(shí)間和精力。
| 您必須為基礎(chǔ)產(chǎn)品添加選項(xiàng)，以獲得估價(jià)。 |
| U7231B-001 |
DDR3 and LPDDR3 compliance test software application, fixed perpetual license |
US$ |
4,841 |
| U7231B-002 |
DDR3 and LPDDR3 compliance test software application upgrade, fixed perpetual license |
US$ |
2,305 |
| U7231B-SKT |
Kit - Shipping |
US$ |
0 |
價(jià)格如有變更，恕不另行通知。
U7231B DDR3 and LPDDR3 Compliance Test Application Software and 30-Day Trial License
Agilent U7231B DDR3 and LPDDR3 compliance test application software for Infiniium Series oscilloscopes.
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- 技術(shù)指標(biāo) (1)
- 手冊(cè) (1)
- 應(yīng)用說(shuō)明 (1)
- 手冊(cè)和競(jìng)爭(zhēng)力概覽 (2)
- 樣機(jī) (1)
| DDR Memory Design and Test Overview
Brief overview of Agilent solutions for DDR design and test.
手冊(cè) 2012-12-19
|
 PDF 1.14 MB |
| DDR Memory Design and Test – A Better Way
Agilent offers the complete solutions for all areas of DDR design, meeting your needs for electrical physical layer, protocol layer, and functional test.
手冊(cè) 2012-12-19
|
PDF 5.17 MB |
| U7231B DDR3 Compliance Test Application Testing Notes
Describes the tests that are performed by the DDR3 Compliance Test Application in more detail.
用戶(hù)手冊(cè) 2012-03-01
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PDF 6.42 MB |
| 用于 Infiniium 系列示波器的 U7231B DDR3 和 LPDDR3 一致性測(cè)試應(yīng)用軟件技術(shù)資料
Agilent U7231B DDR3 和 LPDDR3 一致性測(cè)試應(yīng)用軟件提供一個(gè)測(cè)試、調(diào)試和表征 DDR3 和 LPDDR3 設(shè)計(jì)的便捷方法。
產(chǎn)品資料 2012-02-10
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PDF 1.28 MB
語(yǔ)言
- English | 2013-03-08 | PDF 2.61 MB
- 中文（簡(jiǎn)體） | 2012-02-10 | PDF 1.28 MB
- 中文（繁體） | 2012-02-10 | PDF 1.34 MB
- ??? | 2012-02-10 | PDF 1.28 MB
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| A Time-Saving Method for Analyzing Signal Integrity in DDR Memory Buses
This application note covers new tools and measurement techniques for characterizing and validating signal integrity of DDR (double data rate synchronous dynamic random access memory) signals.
應(yīng)用說(shuō)明 2008-09-10
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PDF 792 KB
語(yǔ)言
- English | 2008-09-10 | PDF 792 KB
- 日本語(yǔ) | 2007-07-24 | PDF 4.08 MB
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| DDR 1, 2 and 3 solutions Video
Includes probing methods, read/write separation technique and automated JEDEC compliance measurements with Infiniium Series oscilloscopes.
基本演示 2007-12-27
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 WMF 52.75 KB |
